計測機器、検査・製造装置

Production & inspections machinery

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Products

ハードディスク検査製造装置

ディスクチッピング検査装置

CCDカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板、メディアの表面、エッジ部のチッピング、汚れ、等を、高速・高精度に検出する量産ライン検査装置です。

ヘッド/ディスク浮上特性評価装置

  • 実機ドライブに近い環境下でテストが可能
  • 最大8台のスピンスタンドを同時駆動可能
  • 最大8台の自動テスト、自動データ保存機能

ハードディスク表面欠陥検査装置

  • ハードディスク表面の微細な表面欠陥を検出
  • スクラッチの検出だけでなく、欠陥の凹凸形状を判定

サファイア基板表面欠陥検査装置

  • サファイア基板表面の微細な表面欠陥を検出
  • スクラッチの検出だけでなく、欠陥の凹凸形状を判定
  • 1カセット(25枚)を約40分で検査

HDA-2005

( 販売終了 )

ヘッド/ディスク姿勢制御装置

  • ヘッド/ディスク平行度の計測
  • ヘッドZハイトの計測
  • ディスク・ランアウトの計測も可能

KLT-2006

( 販売終了 )

アルミ基板用レーザテクスチャリング装置

  • スループット 420PPH (バンプ配列による)
  • フットプリント (W) 990 X (D) 1600 X (H) 2000 mm
  • 両面同時加工
  • 両面独立制御(バンプ高さ、バンプ径、加工半径)

ディスク基板内外径測定装置

DFM-2002

( 販売終了 )

  • 非接触方式による内外径、真円度、同芯度測定
  • 自動キャリブレーション機能
  • 部分計測機能/全周計測機能

自動グライド欠陥分析装置

GDA-2000

( 販売終了 )

  • グライド検査
  • 自動欠陥サーチ・欠陥撮影/マーキング機能

MO用ヘッド浮上高テスター

KFT-2000

( 販売終了 )

  • 高浮上高計測(1~50μm)

ガラス基板用

レーザテクスチャリング装置

KLT-1000G

( 販売終了 )

  • 製造・量産用
  • 処理能力 最大1000pph

ガラス基板用

レーザテクスチャリング装置

KLT-200G

( 販売終了 )

  • 研究開発 試作用
  • 処理能力 最大200pph

グライド検査キャリブレーション用

ガラス基板バンプディスク

bump disk

( 販売終了 )

  • オーダーメイドによる加工サービス
  • レーザテクスチャ加工による安定した形状

三次元計測

( 販売終了 )

三次元計測装置

  • 走査型白色干渉法により非接触で三次元形状が可能
  • さまざまなオプション設定で最適な構成をご提供

半導体検査装置

BHT-1000G

( 販売終了 )

金バンプ高さ検査装置

  • ウエハ上の金バンプの全数検査/高倍率抜き取り検査
  • 抜群の計測再現性(σ 0.1μm)
  • 8インチウエハ1枚の計測時間:約7分
  • 狭ピッチバンプ、低バンプにも対応

食品検査装置

パック卵検査装置 Package egg tester

  • パック卵の卵抜け、液漏れ、中身なしの検査に
  • 既存のラインに後付設置が簡単

ヒビ卵検査装置

  • 卵に触れることなく画像からひびを判断することで、打痕が残らず、かつ衛生的
  • 小さなひびから大きな割れ、更にピンホールの検出が可能

異常卵検査装置

  • 血卵検出機能に加え、乱れ卵 (濁卵)、黄身薄卵、無黄卵などの異常卵を検出
  • 検査結果や設定が、わかりやすく使いやすい設定器を採用

血卵検査装置

  • 国内導入実績250台超
  • 分光分析技術による微量血液の非接触検知
  • 有色卵における業界最高レベルの血卵検出性能
  • 単列毎時45000個の高速検出能力

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